淺聊光學(xué)測厚儀測量注意事項

  光學(xué)測厚儀應(yīng)用較為廣泛，在測量時有很多注意事項?，F(xiàn)在就和大家簡單聊一聊關(guān)于光學(xué)測厚儀測量注意事項。  
  1、在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
  2、測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
  3、測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
  4、測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

  5、測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

  6、測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
  7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
  8、在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。   
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